最終更新日:2016-01-22

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No. 発明の名称
出願先
   
公開番号
   
公開日
   
特許番号
   
登録日
   
共願
   
81 熱風ヒータ JP 2005-140421  2005-06-02  4304333  2009-05-15 -
82 リボフラノース誘導体 JP 2006-028197  2006-02-02  4328323  2009-06-19 -
83 パルス波高整列放射線位置検出器 JP 2004-132930  2004-04-30  4332613  2009-07-03 あり
84 3次元放射線位置検出器 JP 2004-279057  2004-10-07  4338177  2009-07-10 あり
85 マイクロイオンビーム形成用部材の配置方法及びプリズム付きプリズム調整台 JP 2005-135710  2005-05-26  4341824  2009-07-17 あり
86 観察対象の自動検出方法及び装置 JP 2007-017345  2007-01-25  4344862  2009-07-24 -
87 顕微鏡装置 JP 2004-151263  2004-05-27  4346888  2009-07-24 あり
88 粒子線照射装置 JP 2006-212081  2006-08-17  4348470  2009-07-31 -
89 レポーター遺伝子に由来するmRNAの定量により遺伝子転写機能を測定する方法、及び、それに用いる各種プライマー JP 2005-211032  2005-08-11  4348435  2009-07-31 -
90 散乱角不確定性補正コンプトンカメラ JP 2004-325405  2004-11-18  4352122  2009-08-07 -
91 放射線位置検出器の校正方法及び放射線位置検出器 JP 2005-043104  2005-02-17  4367903  2009-09-04 あり
92 Hモード・ドリフトチューブ線形加速器 JP 2006-351233  2006-12-28  4385150  2009-10-09 -
93 バルブおよびバルブの組立方法 JP 2005-325861  2005-11-24  4411422  2009-11-27 -
94 診断システム JP 2005-296482  2005-10-27  4411384  2009-11-27 -
95 放射線検出器 JP 2003-028961  2003-01-29  4420372  2009-12-11 あり
96 遺伝子の発現を解析する方法 JP WO2002/048352  2002-06-20  4437171  2010-01-15 あり
97 粒子線照射用コンぺンセータ及び粒子線照射用コンぺンセータ製造装置 JP 2007-054537  2007-03-08  4456045  2010-02-12 あり
98 荷電粒子線照射装置および回転ガントリ JP 2006-166947  2006-06-29  4452848  2010-02-12 -
99 画像処理方法、システム及びプログラム JP 2005-293299  2005-10-20  4458339  2010-02-19 あり
100 表面汚染検査装置及び検査方法 JP 2008-101922  2008-05-01  4469962  2010-03-12 -

※ 平成 5年以降に国内で公開・登録された特許を掲載(PCT出願を含む)