【公開情報】
発明の名称(出願時) 幹細胞における低線量被ばくの検出マーカー、及び該マーカーを用いる幹細胞での低線量被ばくレベルを推定又は検出する方法
出願ルート JP
職務発明者 安倍真澄
公開番号/特許番号 2008-173034/5130580
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